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国创中心完成端侧AI芯片性能测试

2026-08-18 08:37:00 8 阅读
国创中心成功完成全新端侧AI推理芯片的深度性能测试。此次测试验证了该芯片在低功耗、高效率和多场景应用中的优异表现。测试数据显示,芯片在图像识别任务中的推理速度提升了30%,能效比达到行业领先水平。国创中心相关负责人表示,该芯片将为智能终端设备提供更强大的本地化AI算力支持。
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